Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

rst 12/09/24rnThis thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researcher…

Prosiding seminar nasional mikroskopi dan mikroanalisis II. Serpong 3-4 Agust…

Jurnal Mikroskopi dan Mikroanalisis kali ini terbit dalam bentuk Edisi Khusus dan merupakan prosiding dari Seminar Nasional- Workshop Mikroskopi dan Mikroanalisis - II 1998 yang di selenggarakan atas kerja sama Badan Tenaga Atom Nasional (BATAN) – Universitas Indonesia (UI) dan Indonesian Society for Microscopy and Microanalysis (lSMM) pada tanggal 3-4 Agustus 1998 bertempat di Gedung Sarpeda…

Prosiding seminar nasional mikroskopi dan mikroanalisis III. Serpong 14 Desem…

Prosiding Seminar Nasional Mikroskopi dan Mikroanalisis III ini berisikan makalah-makalah yang telah diseminarkan pada Seminar Sehari Mikroskopi dan Microanalisis yang diselenggarakan atas kerjasama Indonesian Society for Microscopy and Microanalysis (ISMM), Badan Tenaga Nuklir Nasional (BATAN) dan Jurusan Fisika FMIPA UI pada tanggal 14 Desember 1998 bertempat di Gedung 71 BATAN Kawasan PUSPIT…

Prosiding Seminar Nasional Mikroskopi dan Mikroanalisis II. Serpong 3-4 Agust…

Edition

-

ISBN/ISSN

-

Collation

CD-ROM PROSIDING ; 11.5 cm.

Series Title

-

Call Number

535.82 BAT p

Prosiding Seminar Nasional Mikroskopi dan Mikroanalisis III. Serpong 14 Desem…

Edition

-

ISBN/ISSN

-

Collation

CD-ROM PROSIDING ; 11.5 cm.

Series Title

-

Call Number

535.82 BAT p